MOURAD, S. (2000). PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley.
Citace podle Chicago (17th ed.)MOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. New York: John Wiley, 2000.
Citace podle MLA (9th ed.)MOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley, 2000.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..