MOURAD, S. (2000). PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley.
Chicago-viite (17. p.)MOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. New York: John Wiley, 2000.
MLA-viite (9. p.)MOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley, 2000.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.