MOURAD, S. (2000). PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley.
Chicago (17e ed.) BronvermeldingMOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. New York: John Wiley, 2000.
MLA (9e ed.) BronvermeldingMOURAD, S. PRINCIPLES OF TESTING ELECTRONIC SYSTEMS. John Wiley, 2000.
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.