Statistical Analysis of Reliability and Life Testing Models-

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Bain Lee. O.
Formaat: Boek
Gepubliceerd in: New York Marcel Dekker inc 1991
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Omschrijving
Fysieke beschrijving:vii,696
ISBN:0824785061