Statistical Analysis of Reliability and Life Testing Models-

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bain Lee. O.
Format: Książka
Wydane: New York Marcel Dekker inc 1991
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

School of Mathematics, Applied Statistics & Analytics (SOMASA) -

Szczegóły zapisu School of Mathematics, Applied Statistics & Analytics (SOMASA) -
Sygnatura: 620.00452
Egzemplarz Dostępne Zamów